A. Kirk;
I.T. Chapman;
T.E. Evans;
C. Ham;
J.R. Harrison;
G. Huijsmans;
Y. Liang;
Y.Q. Liu;
A. Loarte;
W. Suttrop;
A.J. Thornton;
JET EFDA contributors;
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M.P.S. Nightingale;
F. Durodié;
A. Argouarch;
B. Beaumont;
A. Becoulet;
J-M Bernard;
T. Blackman;
J. Caughman;
P. Dumortier;
D. Edwards;
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C. Hamlyn-Harris;
D. Hancock;
S. Huygen;
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P.U. Lamalle;
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F. Louche;
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D. Stork;
D. Van Eester;
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M. Vrancken;
K. Vulliez;
A. Whitehurst;
D. Wilson;
E. Wooldridge;
JET EFDA contributors;
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